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2023年SEMICON China半導體展會將于6月29日-7月1日在上海新國際博覽中心如期舉行，北京鐳測科技有限公司攜眾多半導體行業雙頻激光干涉儀產品及行業解決方案參與展會，邀您共赴上海！ 展會名稱 ：SEMICON CHINA 2023 時 間 ：2023年6月29日-7月1日 地 點…[詳情]

展位號：11 9 — 公司簡介 — — 參展產品 — 01LH1000↓↓↓[詳情]

激光干涉儀是當今納米時代的長度基準，也是先進制造業（機床、光刻機，航空、航天等）制造精度的保證。激光干涉儀的“激光”是HeNe激光器。鐳測科技研究成了“可伐-玻璃組裝式”結構的HeNe激光器，打破了我國靠玻璃吹制HeNe激光器的歷史。這一長期堅持的研究打通了單頻氦氖激光器→雙折射…[詳情]

1、平面度 平面測量是在角度測量的基礎上做的延伸，利用角度測量的附件記錄下一系列平面位置角度，轉化為高度的變化，按照對角線的方法測量出平臺上不同位置的高度變化值，就可以得到整個平臺的平面度。 [詳情]

1、角度測量原理 角度測量需要角度干涉鏡和角度反射鏡，并且角度反射鏡和角度干涉鏡必須有一個相對旋轉。相對旋轉后，會導致角度測量的兩束光的光程差發生變化，而光程差的變化會被激光干涉儀探測器探測出來，由軟件將線性位置的變化轉換為角度的變化顯示出來。激光干涉儀角度鏡能實現±1…[詳情]

1、直線度測量原理 雙頻激光測頭輸出光經過直線度干涉鏡，按偏振態被分成兩束，以一定角度發散后入射到直線度反射鏡。光束從直線度反射鏡返回，沿新光路回到直線度干涉鏡后，合成一束回到光線接收端，進行干涉測量。通過檢測光路與干涉鏡和反射鏡之間的橫向位移，就可以得到導軌相對于激…[詳情]

1、垂直度測量原理 垂直度測量的主要采用同一個測量基準軸對兩個標稱正交坐標中的每一個軸測量直線度。對兩個直線度測量值進行比較，算出兩個軸之間的垂直度。共同的參考基準是直線度反射鏡的光學基準軸。需要注意的是，兩次測量直線度之間既不移動也不調整。兩次直線度測量過程中至少一…[詳情]

1、平行度測量原理 平行度測量由兩組直線度測量組成，兩次測量都以直線度反射鏡的光學軸為參考基準。需要說明的是，要得到兩軸的平行度，要在兩個正交平面內沿每個要被比較的軸測量直線度。因此，平行度或平行線測量實際是四次直線度測量，每次的步驟和方法同測量直線度一樣，如下圖所示…[詳情]